Strona główna
English version

Profilometr optyczny Talysurf CCI

Jednostka: Katedra Technologii Mechanicznej i Metrologii Opiekun: dr hab. inż. prof. PŚk Edward Miko, Profesor nadzwyczajny
Lokalizacja: E-mail emiko@tu.kielce.pl
WWW: Telefon: 041 34-24-419
Laboratorium: Zobacz opis całego laboratorium Producent:
NazwaName
Profilometr optyczny Talysurf CCIOptical profilometer Talysurf CCI
Opis/specyfikacjaDescription/Specification

System pomiarowy Talysurf CCI do wykonywania optycznych, bezstykowych pomiarów i analiz struktury geometrycznej powierzchni. System umożliwia analizę struktury geometrycznej powierzchni z rozdzielczością pionową dochodzącą do 0,01nm. Rozdzielczość pozioma osiągana przez urządzenie jest rzędu 0,33mm.Profilometr posiada możliwość sklejania (stichingu) mierzonej powierzchni. Dane z pomiarów zapisywane są w macierzy 1024x1024 punktów pomiarowych. Profilometr umożliwia pomiar próbek o współczynniku odbicia światła w zakresie 0,5%÷100%. Do analizy wyników pomiarów wykorzystywane jest oprogramowanie TalyMap Platinium.
alysurf CCI measurement system to perform optical, non-contact measurement and analysis of the geometric structure of the surface. The system allows the analysis of the geometric structure of the surface of the vertical resolution of up to 0.01 nm. Horizontal resolution is achieved by the device is of the order of 0.33 mm.Profilometr has the ability to scale (stichingu) measured surface. Measured data are stored in the matrix of 1024x1024 points. Profilometer allows measurement of sample reflectance in the range of 0.5% to 100%. To analyze the results of measurements is used TalyMap Platinum software.
Słowa kluczoweDziedziny nauki
Profilometr optyczny Talysurf CCI